二維陣列視覺檢測機
型號:CVT-110
本產品適用於陶瓷基板、晶圓晶粒、未切割之片狀產品檢測。採用線性馬達搭配高解析度光學尺，可提供高速度與高精度的掃描。 使用線掃描攝影機取像，可確保影像無變形且亮度均勻，並可配合需求選用適當的光源以突顯缺陷。 統計資料即時顯示於螢幕上並於換料時自動儲存報表，高容量影像庫搭配視覺模擬功能提供快速且準確的參數設定。 軟體與硬體皆為自主開發，提供給客戶最符合需求的設計以及最即時的服務。
特色
- 採用64位元Windows7作業系統，兼具嵌入式單機系統的高可靠度以及個人電腦的方便與親和。
- 採用線掃描攝影機進行取像，可連續且無變形的擷取大面積影像。
- 採用線性馬達搭配高解析度光學尺，可提供高速且高精度的掃描能力。
- 獨特影像來源選擇模式，可針對不同缺陷於最多9個選項中擇一進行檢查，有效提高檢出率與良率。
- 提供即時影像顯示模式並可顯示亮度分佈與變化，方便快速且精確地調整光源強度和設定視覺參數。
- 無限量儲存工件影像，方便進行視覺設定及模擬，有效提高設定值的可信度。
- 無採用特殊零配件且電腦系統與個人電腦相容，耗材便宜且維護成本低。
- 軟體與硬體皆為自主開發，可依客戶需求快速修改，提供最合適的設計與服務。
應用範圍
- 陶瓷基板 (Ceramic Substrate)
- 晶圓 (Wafer)
- 印刷電路板 (PCB)
- 未切割之片狀產品 (Sheet Product)
主要檢測項目
- 尺寸量測
- 位置量測
- 計數量測
- 圖形比對
- 表面瑕疵
- 孔洞檢測
- 異物檢測
- 破損檢測
- 裂痕檢測
- 色差檢測
介紹影片
陶瓷基板檢查示範
待檢產品為 7mm x 6mm 陶瓷基板，利用兩支攝影機進行正反雙面檢查，總檢查時間約8秒、含上下料約10秒。